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TA610\620\630\631 測量（微調）平臺
]資料
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產品名稱:
TA610\620\630\631 測量（微調）平臺
產品型號:
TA610\620\630\631
產品展商:
其他品牌
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簡單介紹
TA610\620\630\631 測量（微調）平臺：TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。TA630微調平臺，X—Y平面轉角，俯仰角。TA631微調平臺，X—Y平面轉角。TA630、631都用來較小幅度的，準確調整被測量工件的位置，提高測量精度。 TA610\620\630\631 測量（微調）平臺
TA610\620\630\631 測量（微調）平臺
的詳細介紹
TA610測量平臺：
齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。
花崗巖平臺工作面精度：00級（平面公差值3μm）
花崗巖平臺大小尺寸：400mm×250mm×70mm
垂直升降高度：270mm
垂直升降微調量：20mm
TA620測量平臺：
絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量精度。
花崗巖平臺工作面精度：00級（平面公差值3μm）
花崗巖平臺大小尺寸：400mm×250mm×70mm
垂直升降高度：300±1mm
升降回程誤差：≤手輪旋轉1/6圈
TA630微調平臺：
X—Y平面轉角，俯仰角。
調整范圍：X向 ±12.5mm Y向：±12.5mm
旋轉角度：粗調 360 微調±5 俯仰角度 0～5
TA631微調平臺：
X—Y平面轉角。
調整范圍：X向 ±12.5mm Y向：±12.5mm
旋轉角度：粗調 360 微調±5
TA610\620\630\631 測量（微調）平臺