原理簡(jian)介：

F探頭磁(ci)(ci)性(xing)法測量導磁(ci)(ci)性(xing)金(jin)屬(shu)基體(如鋼(gang)(gang)、鐵、合金(jin)鋼(gang)(gang)、硬磁(ci)(ci)性(xing)鋼(gang)(gang)等，但(dan)不包括(kuo)奧氏體鋼(gang)(gang)和軟磁(ci)(ci)性(xing)鋼(gang)(gang)等)上非磁(ci)(ci)性(xing)涂鍍層(如油漆、陶瓷、橡膠、鋁、鉻、銅、錫等)的(de)厚度。

N探頭渦(wo)流(liu)法測量非(fei)磁性金屬基體(ti)(ti)(如銅(tong)、鋁、鋅、錫、奧氏體(ti)(ti)非(fei)磁性不銹鋼等)上(shang)非(fei)導(dao)電(dian)覆蓋層的厚度(如：橡膠、油漆(qi)、塑料、陽(yang)極氧(yang)化(hua)膜等)。 

磁性(xing)法(fa)基本工作原(yuan)理  

磁(ci)性法(fa)：當測(ce)(ce)頭接觸(chu)鐵磁(ci)基體(或(huo)其(qi)他磁(ci)性金屬)時形成一閉(bi)合磁(ci)路，由于涂(tu)鍍(du)層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)存(cun)在，穿過線圈(quan)的(de)(de)(de)磁(ci)通量與涂(tu)鍍(du)層(ceng)(ceng)厚(hou)度的(de)(de)(de)變(bian)化會導致磁(ci)路磁(ci)阻發生變(bian)化，通過測(ce)(ce)量其(qi)變(bian)化便可通過計算(suan)導出涂(tu)鍍(du)層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)度。

渦流(liu)法基本工作原(yuan)理

渦流法：當測頭(tou)靠近金屬(shu)基體時，由于(yu)高頻交變電流在(zai)線(xian)圈(quan)中產 生了電磁場，金屬(shu)基體會(hui)形(xing)成(cheng)電渦流并對(dui)線(xian)圈(quan)產生反(fan)饋，隨后通(tong)過測量(liang)(liang)反(fan)饋量(liang)(liang)的大小可推導出相(xiang)對(dui)應(ying)的厚(hou)度值。

涂鍍(du)層測厚儀 PCE-CT 110

PCE-CT 110涂鍍(du)層測儀是通過(guo)(guo)技(ji)術(shu)性，它能、無損傷(shang) 地進行涂 鍍(du)層厚度的測 。既可(ke)用于實驗(yan)室，也可(ke)用于工程(cheng)現場 通過(guo)(guo)使用不(bu)同的測頭(tou)，還可(ke)滿足(zu)多種測 的需(xu)要 PCE CT 110能廣泛(fan)地應(ying)用在(zai)制造業 金屬(shu)加(jia)工業、化工業 商檢(jian)等檢(jian)測領域。是材料保(bao)護的儀器解決了(le)困(kun)擾大(da)家(jia)許久的溫度漂移問題，當被測物與環(huan)境溫度偏差(cha)較大(da)時，實(shi)測值與真實(shi)值差(cha)異(yi)大(da)的難題.

PCE-CT 110涂鍍層(ceng)測 儀是通過**技(ji)術提升測(ce) 精(jing)準(zhun)性，它(ta)能快(kuai)速、無損傷 精(jing)密(mi)地進(jin)行(xing)涂 鍍層厚度的測 。既可用(yong)于實驗(yan)室(shi)，也可用(yong)于工程現場 通過(guo)使用(yong)不同的測頭，還可滿足多種測 的(de)需要 PCE CT 110能廣泛(fan)地應用在制造(zao)業 金(jin)屬加工業、化工業 商檢(jian)等(deng)檢(jian)測領(ling)域。是材料保護專業必備的儀器(qi)。

解決了困擾大家許久的溫(wen)度漂移(yi)問題(ti)，當被(bei)測物與環境(jing)溫(wen)度偏差較(jiao)大時，實測值(zhi)與真(zhen)實值(zhi)差異大的難題(ti)

探頭具有優良的的測值重復性。

超低功耗 正常工作電流小于3mA，可連續工作500小時以上;

突破性解決了溫度變化對測 結果的影響(解決了溫漂問題)快速測量: 速度快 即使在統計狀態也可快速測 并適時統計，毫無延時，

采用了磁性和渦流兩種測厚萬法，既可測 磁性金屬基體上非磁性 蓋層的厚度

又可測 非磁性金屬基體上非導電 蓋層的厚度，

可選自己 種測頭(F400 F500 F1 F1 F10 F3 N400 N1 N3) 具有兩種測 方式 連續測 方式 (CONTINUE 和單次測 方式 (5INGLE

真高兩種工作方式 直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)

設有(you)五個(ge)統計 .平均值(zhi)(zhi) (MEAN 、*大值(zhi)(zhi) (MAX *小值(zhi)(zhi) (MIN測試次數 (NO )、 標準偏(pian)差(cha) (5. DEV) 

可(ke)采(cai)用兩種方法對(dui)儀器進(jin)行校(xiao)準(zhun)，并可(ke)用基本校(xiao)準(zhun)法對(dui)測頭的系統誤差進(jin)行修正

基(ji)本(ben)校;佳指(zhi)示(shi)功能 友好的基(ji)本(ben)校準界面，自動提示(shi)當前校;佳的點號

具青存貯功能 可存貯768個測 值

具有數據瀏覽功能 可瀏覽所有測 數據、統計數據;

探頭規格參(can)數

測頭型號		F400/F500		F1		F1/90°	F3		F10
工作原理		磁    感    應(ying)
測量范圍(um)		0～400/500		0～1250				0～3000	0～10000
低限分辨(bian)力(um)		0.1		0.1				1	10
示值 誤差	一點校準(zhun)(um)	±(3%H+1)						±(3%H+5)	±(3%H+10)
	二點校準(um)	±((1～3)%H+0.7)		±((1～3)%H+1)				±((1～3)%H+5)	±((1～3)%H+10)
測 試 條 件	小(xiao)曲率半徑(mm)	凸	1	1.5	平(ping)直			5	10
	小面(mian)積(ji)的直徑(jing)(mm)	F3		F7	F7			F20	F40
	基體臨界(jie)厚度(mm)	0.2		0.5	0.5			1	2

 

測頭(tou)型號		N400			N1	N1/90	N3		N10（定(ding)制(zhi)）
工(gong)作原理		渦(wo)    流
( 銅上(shang)鍍(du)鉻  0～40um) 測量范(fan)圍(um)		0～400		0～1250				0～3000	0～10000
低限分辨力(um)		0.1		0.1				1	10
示 值 誤差	一點校準(um)	±(3%H+0.7)		±(3%H+1.5)				±(3%H+1)	±(3%H+25)
	二點校準(um)	±[(1～3%H+0.7)		±[(1～3)%H+1.5]				___	±((1～3)%H+25)
測 試 條 件	小曲率半徑(mm)	凸	1.5	3		平直		僅(jin)為平直	25
	小(xiao)面積(ji)的直徑(mm)	F4		F5		F5		F7	F50
	基體臨界(jie)厚度(mm)	0.3		0.3		0.3		無限制	5mm鋁箔

                    

注：H——標稱值

 

附表2                    測頭選用參考表  

                                             覆蓋(gai)層  基體(ti)              ;		有機(ji)材料(liao)等(deng)非磁性覆蓋層(如(ru):漆料(liao)、涂漆、琺瑯、搪瓷、 塑料和(he)陽極化處理等)
		覆蓋層厚度不超過100um	覆蓋層厚度超過100um
如鐵、鋼等磁性金屬	（平(ping)面測量時）被(bei)測面積(ji)的直徑大于(yu)30mm	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um	F1型測(ce)頭    0～1250um F5型測頭    0～5mm F10型(xing)測頭(tou)   0～10mm
	被(bei)測面積的直徑 小于30mm	F400型測頭  0～400um	F1型測頭    0～1250um F400型測頭  0～400um
如銅(tong)  、鋁(lv) 、黃銅(tong) 、鋅 、 錫 等 有(you)色金屬	被測面(mian)積的直徑 大于10mm	N400型測頭  0～400um	N400型(xing)測(ce)頭(tou)  0～400um N10型(xing)測頭(tou)   0～10mm
	被測(ce)面積的(de)直徑 小(xiao)于10mm	N400型測頭  0～400um	N1型測頭    0～1250um N400型測(ce)頭  0～400um

 測頭選用參考表(biao)(續表(biao))

    ; 覆蓋層(ceng)         基體		非磁性的有色(se)金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
		覆蓋層厚度不超過100um	覆蓋層(ceng)厚(hou)度(du)超過100um
如 鐵、鋼等磁(ci)性金屬	（平(ping)面(mian)測(ce)量時）被(bei)測(ce)面(mian)積的直(zhi)徑大于30mm	F400型測(ce)頭  0～400um	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um    F5型測頭    0～5mm F10型測頭(tou)   0～10mm
	被測面積(ji)的直徑 小于(yu)30mm	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um	F400型測(ce)頭(tou)  0～400μm F1型測(ce)頭(tou)    0～1250um
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅(xin) 、 錫 等 有色金屬	被測面(mian)積的直徑 大于10mm	僅用于(yu)銅上鍍鉻 N400型測頭  0～40um	--------
		--------	--------

 標準(zhun)(zhun)配置(zhi)：主機(ji)1、探(tan)頭1、電池3、基體1、標準(zhun)(zhun)片5、原產地證書1、手提箱(xiang)。

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