TT260覆層測厚儀(yi)
本儀器是(shi)一種(zhong)便攜式(shi)測(ce)(ce)量儀，它(ta)能快速、無損傷、精密(mi)地(di)(di)進行涂(tu)、鍍層(ceng)厚度的(de)測(ce)(ce)量。既(ji)可用于實驗室，也可用于工程現(xian)場(chang)。通過使用不同的(de)測(ce)(ce)頭，還可滿足多(duo)種(zhong)測(ce)(ce)量的(de)需要(yao)。本儀器能廣泛地(di)(di)應用在制(zhi)造業、金屬加(jia)工業、化工業、商檢等檢測(ce)(ce)領(ling)域。是(shi)材(cai)料(liao)保(bao)護專業的(de)儀器。
功能特(te)點：TT260覆層(ceng)測厚儀
l 采用了磁性(xing)和(he)渦流兩種測(ce)厚方法(fa)，即可(ke)測(ce)量磁性(xing)金屬基體上非磁性(xing)覆蓋(gai)層的(de)厚度
l 又(you)可測量(liang)非(fei)磁(ci)性金屬基體(ti)上非(fei)導電覆蓋層的厚度；
l 可使用7 種(zhong)測頭(tou)(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
l 具有(you)兩種(zhong)測(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)：連續測(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)（CONTINUE）和單次(ci)測(ce)量方式(shi)（SINGLE）；
l 具有兩種工作方式(shi)(shi)：直接方式(shi)(shi)(DIRECT)和(he)成組(zu)方(fang)式(A-B)；
l 設有五個統計(ji)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小(xiao)值（MIN）、測試次數（NO．）、標(biao)準(zhun)偏差（S．DEV）；
l 可采用兩種方法對(dui)儀(yi)器(qi)進行校準，并可用基(ji)本校準法對(dui)測頭(tou)的(de)系統誤差進行修正；
l 具有存(cun)貯并瀏覽功能：可(ke)存(cun)貯768 個(ge)測量值且可按相應文件夾瀏覽；
l 具有刪除(chu)功能(neng)：對測量(liang)中(zhong)出現的(de)(de)單個(ge)可疑數(shu)據進行刪除(chu)，也可刪除(chu)存貯區內(nei)的(de)(de)所有數(shu)據，以便進行新(xin)的(de)(de)測量(liang)；
l 可設置限(xian)界：對(dui)限(xian)界外的測量值能(neng)自動報警；并可用直方圖對(dui)一批測量值進行分析；
l 具(ju)有打印(yin)功能：可打印(yin)測量值(zhi)、統計值(zhi)、限(xian)界；
l 具(ju)有與PC 機通訊的(de)功能：可將測量(liang)值(zhi)、統計值(zhi)傳輸至PC 機(ji)，以便對數據進(jin)行(xing)進(jin)一步處理；
l 具有電源欠壓指示功能；
l 操作過程有蜂鳴聲提示；
l 具有錯誤提(ti)示(shi)功能(neng)，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提(ti)示(shi)；
l 設(she)有兩種關機(ji)方式(shi)(shi)：手(shou)動關機(ji)方式(shi)(shi)和自動關機(ji)方式(shi)(shi)。
規格參數(shu)：TT260覆層測(ce)厚儀(yi)
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測頭型號
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F400
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F1
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F1/90°
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F5
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F10
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工作原理(li)
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磁 感 應
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測(ce)量(liang)范(fan)圍(wei)(um)
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0～400
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0～1250
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0～5000
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0～10000
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低限分辨(bian)力(um)
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0.1
|
0.1
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1
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10
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示值
誤(wu)差
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一(yi)點(dian)校(xiao)準(um)
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±(3%H+1)
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±(3%H+5)
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±(3%H+10)
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二(er)點校準(um)
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±((1～3)%H+0.7)
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±((1～3)%H+1)
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±((1～3)%H+5)
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±((1～3)%H+10)
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測
試
條
件
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小曲率半徑(mm)
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凸
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1
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1.5
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平(ping)直
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5
|
10
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小面積的直徑(mm)
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F3
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F7
|
F7
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F20
|
F40
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基體臨(lin)界(jie)厚(hou)度(mm)
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0.2
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0.5
|
0.5
|
1
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2
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測(ce)頭型號
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N400
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N1
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N1/90°
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CN02
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N10
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工(gong)作原理
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渦 流
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測(ce)量范圍(um)
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0～400
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0～1250
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10～200
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0～10000
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低限(xian)分辨力(um)
|
0.1
|
0.1
|
1
|
10
|
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示(shi)
值
誤(wu)差
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一點校準(um)
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±(3%H+0.7)
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±(3%H+1.5)
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±(3%H+1)
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±(3%H+25)
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二(er)點校準(um)
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±[(1～3%H+0.7)
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±[(1～3)%H+1.5]
|
___
|
±((1～3)%H+25)
|
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測(ce)
試(shi)
條
件
|
小曲率(lv)半(ban)徑(mm)
|
凸
|
1.5
|
3
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平直(zhi)
|
僅為平直
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25
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小(xiao)面積的直徑(mm)
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F4
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F5
|
F5
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F7
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F50
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基體臨界厚(hou)度(mm)
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0.3
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0.3
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0.3
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無限(xian)制(zhi)
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5mm鋁(lv)箔
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;
注：H——標稱值
_TT260覆層(ceng)測厚儀
附表2 測頭選用參考表
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; 覆蓋層(ceng)
基(ji)體
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有機材料等非磁性(xing)覆(fu)蓋層(如:漆(qi)料、涂漆(qi)、琺瑯、搪瓷(ci)、
塑料和陽(yang)極(ji)化處理(li)等(deng))
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覆蓋層厚度不(bu)超過100um
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覆蓋層厚度超過100um
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如鐵、鋼等磁性金屬
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（平面(mian)測量(liang)時）被(bei)測面(mian)積的直徑(jing)大于30mm
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F400型測頭(tou) 0～400um
F1型(xing)測頭 0～1250um
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F1型測頭(tou) 0～1250um
F5型(xing)測頭 0～5mm
F10型測(ce)頭 0～10mm
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被測面積的直(zhi)徑
小于(yu)30mm
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F400型測頭(tou) 0～400um
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F1型測頭 0～1250um
F400型測頭 0～400um
|
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如銅(tong) 、鋁 、黃銅(tong) 、鋅(xin) 、 錫 等 有色金屬
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被測面積(ji)的直徑
大于10mm
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N400型(xing)測頭(tou) 0～400um
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N400型測頭 0～400um
N10型(xing)測(ce)頭 0～10mm
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被(bei)測面積的直徑
小(xiao)于10mm
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N400型測頭 0～400um
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N1型測頭 0～1250um
N400型(xing)測頭(tou) 0～400um
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測頭選用參考表(續表)
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覆蓋(gai)層
基體
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非磁性的有色金屬(shu)覆蓋層(如:鉻、鋅(xin)、鋁、銅、錫、銀等)
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覆蓋層厚度不超過100um
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覆蓋層厚度超過100um
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如 鐵、鋼(gang)等(deng)磁性金屬
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（平面測(ce)量(liang)時(shi)）被測面積的直徑大于30mm
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F400型測頭 0～400um
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F400型測頭 0～400um
F1型(xing)測頭(tou) 0～1250um
F5型(xing)測頭 0～5mm
F10型測頭 0～10mm
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被測面積的直徑
小于(yu)30mm
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F400型測頭 0～400um
F1型(xing)測頭 0～1250um
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F400型(xing)測頭 0～400μm
F1型(xing)測頭 0～1250um
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如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬
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被(bei)測面積(ji)的直徑
大于10mm
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僅用于銅上鍍鉻
N400型測(ce)頭 0～40um
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--------
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--------
|
--------
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塑料、印刷線路非金屬基體
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被測面(mian)積大于7mm
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CN200型(xing)測頭10～200um
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CN200型測(ce)頭(tou)10～200um
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標(biao)準配置：：（特殊探頭的選配請參照：選配探頭參(can)數）TT260P型涂層測厚儀
TT260主機 1臺
F1或N1測頭 1支
校準標準片 1套
充電器 1個
手提密碼箱 1個
合格證(zheng)，保修卡，說(shuo)明書等(deng)文字資料1份
可選配件：
通訊電纜；軟件 ；其它測量用途的探頭
